Microscopia e Nanoscopia

Informazioni generali

  • Anno di corso: 2°
  • Semestre: 1°
  • CFU: 6

Docente responsabile

Ernesto PLACIDI

Prerequisiti

Conoscenza fisica di base, meccanica quantistica e meccanica statistica.

Obiettivi

Conoscenza dei principi fisici e delle metodologie di indagine delle microscopie a sonda (AFM, STM, SNOM). Spettroscopie elettroniche (XPS, UPS), Diffrazione elettronica (RHEED, LEED), microscopie da luce di sincrotrone (LEEM, XPEEM). Cenni su tecniche di crescita.

Programma del corso

Cenni di teoria cinetica dei gas

  • Tecnologia da vuoto e UHV

Microscopie a scansione di sonda:

  • Microscopia a scansione a effetto tunnel (STM)
  • Microscopia a forza atomica (AFM)
  • Microscopia ottica a scansione a effetto di campo vicino (SNOM)

Reticolo diretto e reciproco di superficie. Diffrazione da superficie:

  • Low energy electron diffraction.
  • Reflected high energy electron diffraction.
  • Cenni di tecniche di fotoemissione: XPS, UPS.

Microscopie elettroniche:

  • Low energy electron microscopy, X-ray Photo-emission electron microscopy
  • Microscopia a scansione di elettroni (SEM)
  • Microscopia a trasmissione di elettroni (TEM).

Modalità d’esame

Scritta e Orale

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