Informazioni generali
- Anno di corso: 2°
- Semestre: 1°
- CFU: 6
Docente responsabile
Prerequisiti
Conoscenza fisica di base, meccanica quantistica e meccanica statistica.
Obiettivi
Conoscenza dei principi fisici e delle metodologie di indagine delle microscopie a sonda (AFM, STM, SNOM). Spettroscopie elettroniche (XPS, UPS), Diffrazione elettronica (RHEED, LEED), microscopie da luce di sincrotrone (LEEM, XPEEM). Cenni su tecniche di crescita.
Programma del corso
Cenni di teoria cinetica dei gas
- Tecnologia da vuoto e UHV
Microscopie a scansione di sonda:
- Microscopia a scansione a effetto tunnel (STM)
- Microscopia a forza atomica (AFM)
- Microscopia ottica a scansione a effetto di campo vicino (SNOM)
Reticolo diretto e reciproco di superficie. Diffrazione da superficie:
- Low energy electron diffraction.
- Reflected high energy electron diffraction.
- Cenni di tecniche di fotoemissione: XPS, UPS.
Microscopie elettroniche:
- Low energy electron microscopy, X-ray Photo-emission electron microscopy
- Microscopia a scansione di elettroni (SEM)
- Microscopia a trasmissione di elettroni (TEM).
Modalità d’esame
Scritta e Orale
